跌落测试分为包装跌落和裸机跌落。包装跌落主要考量运输、储存情况下产品抗意外跌落冲击的能力；裸机跌落主要考量产品在正常使用过程中抗意外跌落冲击的能力。包装跌落也可以反映包装件在受到垂直跌落时候的对产品的保护能力。
跌落高度、跌落次数以及跌落方向对试验反映试验严格程度。对于不同的产品国际标准规范的跌落方式和跌落高度要求不同。对于手持型产品(如手机, MP3等)大多数掉落高度大都介于100cm ~ 150cm不等，IEC对于≦2kg之手持型产品建议应满足100cm之掉落高度不可损坏，MIL则建议掉落高度为122cm，Intel对手持型产品(如手机）则建议落下高度为150cm。
根据参考标准，跌落面为混凝土或者钢制的平滑、坚硬的刚性表面，或者必要时候为其他地面，如大理石地面等。
包装跌落测试一般要求，跌落方式为一角三边六面自由跌落。
角跌落：跌落后，测试角撞击接触平面；
边跌落：将样板底面倾斜致水平20°角，然后将其抬高至测试高度再跌落，其边撞击接触平面；
面跌落：需使测试样板跌落后其平面直接撞击接触平面。
包装跌落测定外箱或内盒之强度及产品包装之牢固性等方面是否符合品质要求。
跌落测试方法标准：
GB/T2423.8《电工电子产品环境试验第二部分：试验方法试验Ed：自由跌落》。
IEC60068-2-32《自由跌落试验方法》。
GB-T4857.5包装运输包装件跌落试验方法。
ASTM D 5276-98(2009)
跌落测试通常是主要用来模拟产品在搬运期间可能受到的自由跌落，考察产品抗意外冲击的能力。通常跌落高度大都根据产品重量以及可能掉落机率做为参考标准，落下表面应该是混凝土或钢制成的平滑、坚硬的刚性表面（如有特殊要求应以产品规格或客户测试规范来决定）。
